sic mos静态参数测试系统igbt检测机
发布时间：2026-02-25 00:00
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区域：北京 - 朝阳
类别：电气网
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信息编号：NO.00072066
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普赛斯PMST功率器件静态参数测试系统，集多种测量和分析功能一体，可以精准测量不同封装类型功率器件（如MOSFET、 BJT、IGBT，以及SiC第三代半导体等）的静态参数，具有高电压和大电流特性、μΩ级导通电阻精确测量、nA级漏电流测量能力等特点。支持高压模式下功率器件结电容
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